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产品名称:涂镀层测厚仪

产品型号:CEM华盛昌DT-156

产品报价:

产品特点:CEM华盛昌DT-156涂镀层测厚仪 可测量涂镀层: 任何磁性物质表面的非磁性涂镀层厚度;任何非磁性金属表面的绝缘涂镀层厚度

CEM华盛昌DT-156涂镀层测厚仪的详细资料:

CEM华盛昌DT-156涂镀层测厚仪

【产品描述】
DT-156涂镀层测厚仪探头可以在电磁感应和涡流两种原理下工作。在自动模式(AUTO)下,两种原理可视测量的基体自动转换,或可通过菜单进行自动模式和非自动模式转换。

CEM华盛昌DT-156【产品特性】
1、可测量涂镀层: 任何磁性物质表面的非磁性涂镀层厚度;任何非磁性金属表面的绝缘涂镀层厚度
2、易于操作的菜单设计
3、连续和单次测量方式
4、直接工作模式和组工作模式
5、可统计并显示:平均值、zui大值、zui小值、标准方差、统计数
6、非常方便的进行一点或两点校准
7、可保存320个测量数据
8、USB传输数据至计算机分析统计
9、实时删除测量数据和组数据
10、高低限报警
11、低电和错误提示可设置的自动关机功能

CEM华盛昌DT-156【技术指标】

传感器探头

铁磁性

非铁磁性

工作原理

磁感应

涡流

测量范围 

0~1250um 

0~1250um

 

0~49.21mil

0~49.21mils

误差

0~850 um (+/- 3%+1um) 

0~850 um(+/- 3%+1.5um)

(相对当前读数)

850um~1250um (+/- 5%) 

850um~1250 um (+/- 5%)

 

0~33.46 mils (+/- 3%+0.039mils)

0~33.46mils (+/- 3%+0.059mils)

 

33.46um~49.21mils (+/- 5%) 

33.46um~49.21mils (+/- 5%)

精度 

0~50um (0.1um) 

0~50um (0.1um)

 

50um~850um(1um) 

50um~850um(1um)

 

850um~1250um(0.01mm)

850um~1250um(0.01mm)

 

0~1.968mils (0.001mils)

0~1.968mils (0.001mils)

 

1.968mils~33.46mils(0.01mils) 

1.968mils~33.46mils(0.01mils) 

 

33.46mils~49.21mils(0.1mils)

33.46mils~49.21mils(0.1mils)

单位换算:

1、milPCB或晶片布局的长度单位):1 mil =千分之一英寸,1mil = 0.0254mm

2、um有时也做微米(单位)使用,1mm(毫米)=1000um(微米) 1um=1000nm(纳米)。

使用方法

1、工作模式:
1-1.AOTO:探头根据待测物体性质(铁磁性物质或非铁磁性金属)自动转入相应工作模式。如果待测物体是铁镍等磁性金属物质,探头将转入磁感应原理工作模式;如果待测物体时非磁性的金属物质,探头将转入涡流原理工作模式。
1-2.Fe:探头将是磁感应原理工作模式。
1-3.No-Fe:探头将是涡流原理工作模式。
2、直接测量(DIR):开机默认为此模式。用于快速随意测量。在此模式下,测量数据会临时保存在内存中,可以通过菜单浏览所有已存数据和统计值,但一旦关机、系统掉电或从直接测量模式切换到组工作模式,这些数据将会丢失。此模式下,zui多可统计80个数据,超出的读数将替换zui旧读数并保存更新统计值。
3、组测量(GR01~GR04):每一组工作模式下,系统可保存zui多80个数据,5个统计值。关机和掉电,所有保存值不会丢失,并且组与组之间相互独立不受影响,需要删除保存的值,可通过菜单操作进行。当测量数据超出80个,数据测量可以继续进行,但是所有数据将不被保存和统计计算。如有需要,可通过菜单删除组数据。

4、读数浏览:通过“Measurement view”菜单项,浏览当前工作组所有测量读数。
5、测量中的统计数据:厚度统计数据可统计80个读数(GR01~GR04总共zui多可存储4*80=320个读数)。此外,在DIR模式除了读数不存储外,其他和GRO模式相同。
NO.:开机以来进行统计的读数个数
AVG:平均值
Sdev:标准方差
MAX:zui大读数
MIN:zui小读数

包装清单
*1使用说明书 *1合格证 *1电池*2硬盒*1彩盒*1 USB连接线缆*1软件CD*1探头*1钢铁基体*1铝块基体*1标准薄片*2

 

 

 

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