SEB4双晶探头 探伤仪探头

SEB4探头特点： 

用于探测棒材、坯块、杆等中心缺陷的标准探头。经常用作在中等和大尺寸物体（如锻造或铸造的物体）中预期区域内缺陷的探测（如气孔、微孔和热裂缝）。更适合于用作与物体平面平行的缺陷区域精确范围的确定（如层状结构缺陷、渣孔及厚钢板中的他隔线）。

具体型号有：

SEB1、SEB1-EN、SEB2、SEB2-EN、SEB2- O°、SEB4、SEB4-EN、 SEB4- O°、SEB4-EN- SEB2-EN-O°

双晶直探头主要应用：

通常：近表面的小缺陷探测和评估。焦点内大缺陷以及平行于表面分布的缺陷检测。剩余壁厚的测量（即使在高温情况下）。

l 壁厚余量，锈蚀、腐蚀

l 近表缺陷检测

l 小零件—螺钉，螺栓，销钉

l 覆层和堆焊层

l 粘接检测

l 轴，杆，方坯芯部缺陷

l 粗晶材料

双晶探伤仪直探头主要特性：

l 近表分辨率

l 与曲面和粗糙面耦合好

l 散射噪声较小

l 对曲面工件也能沿其轮廓进行检测

l 欧款有侧装Lemo 00连接口，SEB..KF型Microdot侧装

l 美款有固定BNC电缆（ADP）或侧装MMD（FDU）

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