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产品名称:双晶探头 探伤仪探头

产品型号:SEB2 SEB2-EN

产品报价:

产品特点:SEB2 SEB2-EN 具体型号有:SEB1、SEB1-EN、SEB2、SEB2-EN、SEB2- O°、SEB4、SEB4-EN、 SEB4- O°、SEB4-EN- SEB2-EN-O°

SEB2 SEB2-EN双晶探头 探伤仪探头的详细资料:

SEB2双晶探头 探伤仪探头

SEB2探头特点:

用于探测棒材、坯块、杆等中心缺陷的标准探头。经常用作在中等和大尺寸物体(如锻造或铸造的物体)中预期区域内缺陷的探测(如气孔、微孔和热裂缝)。更适合于用作与物体平面平行的缺陷区域精确范围的确定(如层状结构缺陷、渣孔及厚钢板中的他隔线)。

具体型号有:

SEB1、SEB1-EN、SEB2、SEB2-EN、SEB2- O°、SEB4、SEB4-EN、 SEB4- O°、SEB4-EN- SEB2-EN-O°

双晶直探头主要应用:

通常:近表面的小缺陷探测和评估。焦点内大缺陷以及平行于表面分布的缺陷检测。剩余壁厚的测量(即使在高温情况下)。

l 壁厚余量,锈蚀、腐蚀

l 近表缺陷检测

l 小零件—螺钉,螺栓,销钉

l 覆层和堆焊层

l 粘接检测

l 轴,杆,方坯芯部缺陷

l 粗晶材料

双晶探伤仪直探头主要特性:

l 近表分辨率极佳

l 与曲面和粗糙面耦合好

l 散射噪声较小

l 对曲面工件也能沿其轮廓进行检测

l 欧款有侧装Lemo 00连接口,SEB..KF型Microdot侧装

l 美款有固定BNC电缆(ADP)或侧装MMD(FDU)

带保护膜直探头

耐磨直探头

双晶直探头

B0.5SL
B1SL
B2SL
B1S
B1S-EN
B1S-O
B2S
B2S-EN
B2S-O
B2S-O-EN
B4S
B4S-EN
B4S-O
B4S-O-EN
B5S
MB2S
MB2S-EN
MB2S-O
MB4S
MB4S-EN
MB4S-O
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MB5S-O

K1G
K2G
K2G-EN
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K1N
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K5K-EN
K10K
K10K-EN
G1N
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G2KB
G5KB
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B1F
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B5F
MB2F
MB4F
MB4F-EN
MB5F
MB10F

SEB1
SEB1-EN
SEB2
SEB2-EN
SEB2-0°
SEB2-EN-0°
SEB4
SEB4-EN
SEB4-0°
SEB4-EN-0°
MSEB2
MSEB2-EN
MSEB4
MSEB4-EN
MSEB4-0°
MSEB5
SEB2KF5
SEB4KF8
SEB4KF8-EN
SEB5KF3
SEB10KF3

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