涂镀层测厚仪的分类

涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型: 

 1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢\铁\银\镍.此种方法测量精度高 . 

2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量.此种方法较磁性测厚法精度低.   

3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵\测量精度也不高.  

4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层.一般精度也不高.测量起来较其他几种麻烦.  

5.放射测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合.   国内目前使用zui为普遍的是第1\2两种方法。  

常规涂层测厚仪的原理: 

  对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关国家和标准中称为覆层（coating）。   覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的*手段。为使产品化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。   覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。 

  X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。   随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用zui广泛的测厚仪器。 

  采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。   

测量原理与仪器  

  一． 磁吸力测量原理及测厚仪    *磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用zui广。测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。 

  这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源，测量前无须校准，价格也较低，很适合车间做现场质量控制。 

  二． 磁感应测量原理   采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。   磁性原理测厚仪可应用来测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。  

  三． 电涡流测量原理  

  高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。   采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适  

影响涂镀层测厚仪测量值精度的因素   1．影响因素的有关说明:   a 基体金属磁性质 

  磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。   b 基体金属电性质 

  基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。   c 基体金属厚度 

  每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。   d 边缘效应 

  本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。 

  e 曲率 

  试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯

曲试件的表面上测量是不可靠的。   f 试件的变形 

  测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。   g 表面粗糙度 

  基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。   g 磁场 

  周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。   h 附着物质 

  本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。   i 测头压力 

  测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。   j 测头的取向 

  测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。   2．使用仪器时应当遵守的规定:   a 基体金属特性   对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。 

  对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。   b 基体金属厚度 

  检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。   c 边缘效应 

    不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。   d 曲率 

  不应在试件的弯曲表面上测量。   e 读数次数 

  通常由于仪器的每次读数并不*相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。    f 表面清洁度 

  测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。    

涂镀层测厚仪中F，N以及FN的区别： 

  F代表ferrous铁磁性基体，F型的涂层测厚仪采用电磁感应原理，来测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。 

  N代表Non-ferrous非铁磁性基体，N型的涂层测厚仪采用电涡流原理；来测量用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。  

  FN型的涂层测厚仪既采用电磁感应原理，又采用采用电涡流原理，是F型和N型的二合一型涂层测厚仪。用途见上。如CMI153涂镀层测厚仪是FN型双功能测厚仪；

CEM华盛昌DT-156涂镀层测厚仪

【产品描述】
DT-156涂镀层测厚仪探头可以在电磁感应和涡流两种原理下工作。在自动模式（AUTO）下，两种原理可视测量的基体自动转换，或可通过菜单进行自动模式和非自动模式转换。

CEM华盛昌DT-156涂镀层测厚仪【产品特性】
1、可测量涂镀层： 任何磁性物质表面的非磁性涂镀层厚度；任何非磁性金属表面的绝缘涂镀层厚度
2、易于操作的菜单设计
3、连续和单次测量方式
4、直接工作模式和组工作模式
5、可统计并显示：平均值、zui大值、zui小值、标准方差、统计数
6、非常方便的进行一点或两点校准
7、可保存320个测量数据
8、USB传输数据至计算机分析统计
9、实时删除测量数据和组数据
10、高低限报警
11、低电和错误提示可设置的自动关机功能

CEM华盛昌DT-156涂镀层测厚仪【技术指标】

单位换算：

1、mil（PCB或晶片布局的长度单位）：1 mil =千分之一英寸，1mil = 0.0254mm。

2、um有时也做微米（单位）使用，1mm（毫米）=1000um（微米) 1um=1000nm(纳米）。

使用方法

1、工作模式：
1-1.AOTO：探头根据待测物体性质(铁磁性物质或非铁磁性金属)自动转入相应工作模式。如果待测物体是铁镍等磁性金属物质，探头将转入磁感应原理工作模式；如果待测物体时非磁性的金属物质，探头将转入涡流原理工作模式。
1-2.Fe：探头将是磁感应原理工作模式。
1-3.No-Fe：探头将是涡流原理工作模式。
2、直接测量(DIR)：开机默认为此模式。用于快速随意测量。在此模式下，测量数据会临时保存在内存中，可以通过菜单浏览所有已存数据和统计值，但一旦关机、系统掉电或从直接测量模式切换到组工作模式，这些数据将会丢失。此模式下，zui多可统计80个数据，超出的读数将替换zui旧读数并保存更新统计值。
3、组测量(GR01～GR04)：每一组工作模式下，系统可保存zui多80个数据，5个统计值。关机和掉电，所有保存值不会丢失，并且组与组之间相互独立不受影响，需要删除保存的值，可通过菜单操作进行。当测量数据超出80个，数据测量可以继续进行，但是所有数据将不被保存和统计计算。如有需要，可通过菜单删除组数据。

4、读数浏览：通过“Measurement view"菜单项，浏览当前工作组所有测量读数。
5、测量中的统计数据：厚度统计数据可统计80个读数(GR01～GR04总共zui多可存储4*80=320个读数)。此外，在DIR模式除了读数不存储外，其他和GRO模式相同。
NO.：开机以来进行统计的读数个数
AVG：平均值
Sdev：标准方差
MAX：zui大读数
MIN：zui小读数

包装清单:
涂镀层测厚仪*1使用说明书 *1合格证 *1电池*2硬盒*1彩盒*1 USB连接线缆*1软件CD*1探头*1钢铁基体*1铝块基体*1标准薄片*2

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